トンネル効果電子応用研究室
＃ナノスケール構造＃走査型トンネル顕微鏡法＃表面物性
研究内容
身の回りの物質は多数の原子が結びついて出来ています。その結びつき方や結びつく原子の数によって物質の性質は変わります。原子の並び方や個別の原子の性質を調べることの出来る測定法に走査型トンネル顕微鏡法があります。この測定法をさらに拡張し、特に半導体表面のナノスケールの構造の性質を調べる方法を探っています。
研究テーマ
走査型トンネル顕微鏡を用いたナノスケール構造の物性
堀口 順弘 助教
身の回りの物質は多数の原子が結びついて出来ていて、その結びつき方で物質の性質が決まります。結合が切れたり、物質が小さくなりナノメートル程度の大きさになると性質が変わってきます。そのような性質を調べる手法として走査型トンネル顕微鏡法（Scanning Tunneling Microscopy:STM）があります。STMでは調べたい物質に鋭い金属探針を近づけたときに流れるトンネル電流を検出しています。このトンネル電流には物質の性質に関する色々な情報が含まれています。測定方法を拡張することによってこの情報を取り出すことが出来ます。STMを用いて半導体表面のナノスケールの構造の性質を調べる方法を探っています。
