機器一覧

表面・分析評価

透過型分析電子顕微鏡（TEM）
設置場所：W104
管理者（H27.4.1）：岸本
小型走査イオン顕微鏡（FIB）
設置場所：W104
管理者（H27.4.1）：岸本
走査型プローブ顕微鏡（SPM）
設置場所：W109
管理者（H31.4.1）：植杉
サーマル電界放出型走査電子顕微鏡（FE-SEM）
設置場所：W105
管理者（H31.4.1）：安藤
分析走査型電子顕微鏡（EDS-SEM）
設置場所：W105
管理者（H31.4.1）：安藤
電子線マイクロアナライザー（EPMA）
設置場所：W207
管理者（H27.4.1）：田湯
共焦点レーザー顕微鏡
設置場所：Y509
管理者（H27.4.1）：澤田
電界放射型走査顕微鏡（FE-SEM）
設置場所：X203
管理者（H27.4.1）：岸本
X線光電子分光法（XPS）
設置場所：X203
管理者（H27.4.1）：岸本

物性評価

水平型多目的X線回折装置（XRD）
設置場所：A144
管理者（H30.4.1）：武田
湾曲IP X線回折装置（XRD）
設置場所：W205
管理者（H27.4.1）：関根
ラマン分光測定装置
設置場所：E102
管理者（H27.4.1）：酒井
分子構造解析装置（NMR）
設置場所：U106
管理者（H27.4.1）：中野
磁気特性測定装置（MPMS-2）
設置場所：R108
管理者（H27.4.1）：戎
物理特性測定装置（PPMS-7）
設置場所：R108
管理者（H27.4.1）：戎
超微小押込み硬度試験機（ナノインデンター）
設置場所：X203
管理者（H27.4.1）：岸本

バイオ・環境評価

DNA シーケンサー
設置場所：X101
管理者（R6.4.1）：長谷川
MALDI-TOF-MS
設置場所：X101
管理者（R6.4.1）：長谷川
液体クロマトグラフ質量分析計（LC-MS）
設置場所：X101
管理者（H27.4.1）：上井
ゲルマニウム半導体γ線核種分析装置
設置場所：W108
管理者（H27.4.1）：センター長
原子吸光光度計（AAS）
設置場所：W304
管理者（H27.4.1）：センター長
紫外-可視分光光度計（UV-VIS）
設置場所：W304
管理者（H27.4.1）：センター長
ガスクロマトグラフ（ECD ＆ FID）
設置場所：W304
管理者（H27.4.1）：センター長
液体窒素供給システム（LN2-CE）
設置場所：機器分析センター隣接
管理者（H27.4.1）：センター長