利用者資格

経験者から講習を受けた者
※条件付きで学外の方も利用できます

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本装置は、封入管タイプのX線発生装置と大面積の湾曲IP検出器を備えた2次元X線回折装置です。Ｘ線回折像はIP上に2次元のデバイ環として得ることができるため、試料の粒径、配向や結晶状態に関する情報を容易に得ることができます。

IP上のデバイ環は積分することができ、回折に寄与する結晶が非常に少ない微量試料でも解析が可能です。また、最小30μｍのコリメータの使用により、バルク試料の微小部の測定も可能です。

本装置は粉末試料をはじめ、バルク、フィルム、微小試料など試料の形状、形態を問わず多様な試料の測定が可能です。

アクセス

機器分析センター 2F