長谷川 靖(しくみ解明系領域)
内線:5745
湯口 実(技術部)
内線:5936
利用講習を受けた者、装置について熟知しているもの
物質の質量を正確に測定する装置で、イオン源、質量分析部、検出部からなっている。イオン源には、EI法、CI法、FD法、FAB法、MALDI法、ESI法などがあるが、本装置はMALDI法というマトリクス支援レーザー脱離法という、タンパク質、高分子でも安定にイオン化できる方法を用いている。
分析部は磁場偏向型、四重極型、イオントラップ型、飛行時間型、フーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴型などがあるが、TOF法(飛行時間法)は原理上測定可能な質量範囲に制限がなく、また高感度である。
ブルカーダルトニクス社のUltraflex Xtremeは、2段階のTOF/TOFでフラグメント解析がfmolレベルで可能な高性能機です。
※機器分析センター側の玄関を利用してください