利用者資格

近赤レーザーを利用する光学実験に関する知識・技能を有する職員、大学院生、学部生
※条件付きで学外の方も利用できます

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基本的には、原子間力顕微鏡（Atomic Force Microscopy：AFM）として使用している。

AFMは原子間力（ファンデルワールス力）を利用して試料の表面を観察する装置で、先端に微小な探針の付いたカンチレバーを試料表面に接近させ、探針と試料表面の間に働くファンデルワールス引力・斥力によるカンチレバーの変位を、レーザーとフォトディテクター（光てこの原理）または、カンチレバーに内蔵した歪み検知回路により、検出・拡大している。

検出されるカンチレバーの変位は探針と試料の表面に作用する力によるものであり、その力を一定に保つように試料ステージZ軸をピエゾ素子にて上下させることで、試料の高さ方向の情報を得ることができる。また、同時にXY軸方向にもスキャンすることによって3次元的に試料表面形状（最大：数μm×数μmの範囲で、高低差：原子レベル～～数百nm）を得ることができる。

アクセス

機器分析センター 1F