研究室保有の実験装置
水素機能材料学研究室内で保有している装置です。
試料合成、調整装置
高圧合成装置
GPaオーダー(1GPa=1万気圧)の高圧、高温で試料を熱処理し、新物質探索などを行う。
最大印加圧力、温度: | 6GPa,1100℃ |
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最大試料サイズ: | Φ3.6×2.5mm |
アーク溶解炉
金属原料を溶解・鋳造し、合金試料を作成する。
作製試料量: | (鉄換算)12g ×4個 (銅ハースの交換により 50g×1にも対応) |
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溶解雰囲気: | Ar(アルゴン) |
遊星型ボールミル装置
粉末試料などを混合、粉砕する。
型式: | Fritsch P-7 |
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仕様: | 2個掛 ・保有ポット(45cc):WC, クロム鋼、ZrO2 (オーバーポットによって、雰囲気制御可能) |
型式: | Fritsch P-6 |
仕様: | 1個掛 ・保有ポット(80cc):クロム鋼、ZrO2 |
グローブボックス
不活性ガス雰囲気内で試料の酸化を防ぎながら、試料の調整が可能である。
(1号機/2号機) | |
露点: | 70ppm以下 / 80ppm以下 |
酸素濃度: | 5ppm以下/1ppm以下 |
雰囲気熱処理炉
合金等試料の熱処理をする。
(1号機/2号機) | |
雰囲気: | Ar雰囲気または大気(2機共通) |
均熱域: | (±5℃)12Φ× 20L (最大25Φ×50L程度まで可) |
最高温度: | 1500℃/1200℃ |
評価・分析装置
粉末X線回折装置(XRD)
粉末等試料の結晶構造解析。
X線源: | Cu-Kα(回転対陰極式) |
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出力: | 9kW |
検出: | 500倍増半導体、シンチレーター |
PCT特性測定装置
水素貯蔵材料の水素吸蔵特性(PCT特性)や水素放出速度測定などを行う。
示差走査熱量測定(DSC)
一定の熱を与えながら試料の温度を測定して、試料の状態変化による吸熱反応や発熱反応を測定する。
型式: | TA Q2000 |
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仕様: | ・温度範囲:-180〜700℃ ・そのほか:Tzero, モジュレーション測定可 |
高圧示差走査熱量測定(P−DSC)
加圧した雰囲気ガスで示差熱量測定ができる。
型式: | TA Q20P |
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仕様: | ・温度範囲:室温〜600℃(ガス種による) ・圧力範囲:大気圧〜5MPa (ガス種による) |
熱重量・昇温脱離ガス分析装置(TG−DTA−mass)
試料温度を変化させて、それに伴う重量変化と吸熱・発熱反応を同時に観測すると共に、発生ガスの定性分析と発生温度の解析ができる。
型式: | TRIGAKU ThermoMass Photo |
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仕様: | ・天秤部:水平差動型 TG-DTA ・測定温度範囲:室温~1000℃A ・MS分析範囲:1〜410 (m/z) |
酸素・窒素・水素分析装置(溶解抽出法)
試料中の水素、酸素、窒素濃度を定量分析する。
型式: | HORIBA EMGA-930 |
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