研究室保有の実験装置

水素機能材料学研究室内で保有している装置です。

試料合成、調整装置

HighPressure apparatus

高圧合成装置

GPaオーダー(1GPa=1万気圧)の高圧、高温で試料を熱処理し、新物質探索などを行う。

最大印加圧力、温度:6GPa,1100℃
最大試料サイズ:Φ3.6×2.5mm
アーク溶解炉

アーク溶解炉

金属原料を溶解・鋳造し、合金試料を作成する。

作製試料量:(鉄換算)12g ×4個
(銅ハースの交換により
 50g×1にも対応)
溶解雰囲気:Ar(アルゴン)
ball milling

遊星型ボールミル装置

粉末試料などを混合、粉砕する。

型式:Fritsch P-7
仕様:2個掛
・保有ポット(45cc):WC, クロム鋼、ZrO2
(オーバーポットによって、雰囲気制御可能)
型式:Fritsch P-6
仕様:1個掛
・保有ポット(80cc):クロム鋼、ZrO2
GloveBox

グローブボックス

不活性ガス雰囲気内で試料の酸化を防ぎながら、試料の調整が可能である。

(1号機/2号機)
露点:70ppm以下 / 80ppm以下
酸素濃度:5ppm以下/1ppm以下
furnace

雰囲気熱処理炉

合金等試料の熱処理をする。

(1号機/2号機)
雰囲気:Ar雰囲気または大気(2機共通)
均熱域:(±5℃)12Φ× 20L
 (最大25Φ×50L程度まで可)
最高温度:1500℃/1200℃

評価・分析装置

分析走査型電子顕微鏡(SEM−EDX)

 合金等試料表面の微細組織観察と化学組成分析をする。

型式:・JEOL
・Bruker
     → [SEM入門]

粉末X線回折装置(XRD)

粉末等試料の結晶構造解析。

X線源:Cu-Kα(回転対陰極式)
出力:9kW
検出:500倍増半導体、シンチレーター

PCT特性測定装置

水素貯蔵材料の水素吸蔵特性(PCT特性)や水素放出速度測定などを行う。

Q2000

示差走査熱量測定(DSC)

一定の熱を与えながら試料の温度を測定して、試料の状態変化による吸熱反応や発熱反応を測定する。

型式:TA Q2000
仕様:・温度範囲:-180〜700℃
・そのほか:Tzero, モジュレーション測定可
Q20P

高圧示差走査熱量測定(P−DSC)

加圧した雰囲気ガスで示差熱量測定ができる。

型式:TA Q20P
仕様:・温度範囲:室温〜600℃(ガス種による)
・圧力範囲:大気圧〜5MPa (ガス種による)

熱重量・昇温脱離ガス分析装置(TG−DTA−mass)

試料温度を変化させて、それに伴う重量変化と吸熱・発熱反応を同時に観測すると共に、発生ガスの定性分析と発生温度の解析ができる。

型式:TRIGAKU ThermoMass Photo
仕様:・天秤部:水平差動型 TG-DTA
・測定温度範囲:室温~1000℃A
・MS分析範囲:1〜410 (m/z)

酸素・窒素・水素分析装置(溶解抽出法)

試料中の水素、酸素、窒素濃度を定量分析する。

型式:HORIBA EMGA-930