Electric/Electronic/Communication
圧力を利用すると電子材料の構成分子を変えずに分子間距離を制御できるため、電子材料の性質の理解が深まる。また分子間距離を変化させることにより、電子材料の新しい性質を引き出すことができ、特に有機物や金属錯体は大きな結晶格子を持つので顕著な圧力効果が期待できる。圧力技術を利用してピコレベルで電子材料の分子間距離を制御し、電気的・光学的性質で評価を行い、新しい電子デバイスの開発を行う。
圧力をかけて原子・分子間距離を変化させた状態で電気伝導度や吸収・蛍光スペクトルなどの光学測定を行いデバイス材料の性質を調べる事が出来る。また圧力を積極的に利用したデバイス材料の開発を行う。例えば、一次元金属錯体は分子同士が近づくと色が多彩に変化し、電気抵抗が急激に減少する。この性質を利用すると、色から圧力が分かる圧力インジケータや電気抵抗から圧力を求める高圧力センサーとして利用できる。
10万気圧を超える高圧力下での物性測定技術。
構成分子を置換せずに分子間距離を変化させ、ピコレベルの制御が可能。 分子同士を近づけた状態で測定が出来るほか、ミクロンサイズの微小試料で測定が可能。
圧力による電子材料の新しい性質の探索、分子間距離を近づけた状態での光学測定・電気伝導・結晶構造の解析、放射光を利用した精密粉末X線構造解析、材料の体積弾性率測定、低温・高圧での物性測定、紫外から近赤外までの光学測定。