| 開講学期／Course Start | 2026年度／Academic Year 前期／First |
|---|---|
| 開講曜限／Class period | 水/Wed 3 , 水/Wed 4 |
| 授業区分／Regular or Intensive | 週間授業 |
| 対象学科／Department | 情報電子工学系学科電気電子工学コース／Department of Information and Electronic EngineeringCourse of Electrical and Electronic Engineering,情報電子工学系学科情報通信システム工学コース／Department of Information and Electronic EngineeringCourse of Information and Communication Engineering,創造工学科電気電子工学コース／Department of EngineeringCourse of Electrical and Electronic Engineering |
| 対象学年／Year | 3年 , 4年 |
| 授業科目区分／Category | 教育課程 創造工学科 |
| 必修・選択／Mandatory or Elective | 必修 |
| 授業方法／Lecture or Seminar | 講義科目 |
| 授業科目名／Course Title | 半導体工学／Semiconductor Engineering |
| 単位数／Number of Credits | 2 |
| 担当教員名／Lecturer | 植杉 克弘 (創造工学科電気電子工学コース) |
| 時間割コード／Registration Code | J3172 |
| 連絡先／Contact | 植杉 克弘(Y701, 0143-46-5546, uesugi@muroran-it.ac.jp) |
| オフィスアワー／Office hours | 植杉 克弘(水・木 12:00～13:00) |
| 実務経験／Work experience |
| 更新日／Date of renewal | 2026/02/13 |
|---|---|
| 授業のねらい ／Learning Objectives |
今日の情報通信技術は、半導体エレクトロニクス技術を基礎として発展している。本授業では、半導体デバイスの動作原理、各種半導体デバイスへの応用技術について習得する。 |
| 到達度目標 ／Outcomes Measured By: |
１．半導体に関する基本的な用語を理解することができる(40％)。 ２．半導体デバイスの動作原理を理解することができる（30％）。 ３．各種半導体デバイスの動作原理を理解することができる（30％）。 |
| 授業計画 ／Course Schedule |
総時間数：1.5時間×15回+定期試験（1.5時間）=24時間 第１回：ガイダンス、固体のエネルギー帯１（電子近似モデル） 第２回：固体のエネルギー帯２（フェルミ分布） 第３回：半導体の伝導機構１（キャリア密度） 第４回：半導体の伝導機構２（ドリフト電流、拡散電流） 第５回：半導体の伝導機構３（キャリアの発生、再結合） 第６回：ｐｎ接合 第７回：金属・半導体接触 第８回：ショットキー障壁 第９回：ダイオード 第１０回：バイポーラトランジスタ 第１１回：ユニポーラトランジスタ１（JFET） 第１２回：ユニポーラトランジスタ２（MOSFET） 第１３回：フォトニックデバイス１（発光ダイオード） 第１４回：フォトニックデバイス２（レーザーダイオード） 第１５回：集積回路の基礎 定期試験 各回の学修時間の目安は、事前・事後合わせて４時間必要です。 |
| 教科書 ／Required Text |
電子デバイスの基礎（桜庭一郎、岡本淳共著、森北出版） (ISBN:9784627772618) |
| 参考書等 ／Required Materials |
最新VLSIの基礎（Yuan Taur (陶元), Tak H. Ning (甯徳雄)著；芝原健太郎、宮本恭幸、内田建監訳、丸善出版) (ISBN:9784621070833) |
| 成績評価方法 ／Grading Guidelines |
定期試験60％、レポート40％の割合で評価する。100点満点中 60点以上が合格点である。 |
| 履修上の注意 ／Notices |
期末試験の欠席者（正当な理由がある者）に対しては、追試験を行う予定である。 原則として、定期試験を受けるには12回以上の出席を要する。 |
| 教員メッセージ ／Message from Lecturer |
再試験について 不合格者の中で総合評価が教員の定める点数以上のものについて、レポート、期末試験を総合した再試験を１回実施する。ただし、与えられた課題を全て解答し、期限内に提出することが再試験受験の条件である。なお、再試験によって合格したものの評価点は60点とする。 |
| 学習・教育目標との対応 ／Learning and Educational Policy |
学生便覧「学習目標と授業科目との関係表」参照 |
| 関連科目 ／Related course |
電子物性、電気電子材料、等 |