| 対象年度 | 2004 |
| 教育課程名 | 博士前期課程 専攻別科目 |
| 授業科目名 | 機器分析化学特論 |
| Subject Name | Advanced Instrumental Analysis |
| 単位数 | 2 |
| 必修・選択の別 | 選択 |
| 対象学科・学年 | 応用化学専攻1年 |
| 開講時期 | 後期 |
| 授業方法 | 講義と輪読 |
| 担当教官 | 上道芳夫（応用化学専攻・基礎化学講座） |
| 教官室番号 | U-101 |
| 連絡先（Tel） | 0143-46-5724 |
| 連絡先（E-Mail） | |
| 授業のねらい | 様々な機器分析法の原理と特長（長所と短所）を学ぶ。 |
| 授業の目標 | 光分析法とクロマトグラフィーの原理、測定法、解析法、応用例、問題点などを理解する。 |
| 授業計画 | テキストの以下の部分を輪読する。 吸光光度分析と蛍光光度分析 赤外吸収スペクトル分析 原子吸光分析と発光分光分析 X線分析 質量分析 クロマトグラフィー 熱分析 |
| 教科書及び教材 | 庄野利之、脇田久伸編著「入門機器分析化学」三共出版 |
| 参考書 | |
| 成績評価方法 | 輪読における理解度（50％）とレポート（50％）による。 |
| 履修条件等 | |
| 教官からのメッセージ | |
| その他 | |